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高低溫恒溫恒濕試驗箱校準方法的優(yōu)缺點(diǎn)

更新時(shí)間:2022-06-09  |  點(diǎn)擊率:1154

高低溫恒溫恒濕試驗箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高低溫、恒溫或恒濕的可靠性試驗,對產(chǎn)品或零部件及材料在高、低溫交變循環(huán)變化的情況下,檢驗其各項性能指標。一般使用到一定時(shí)期需要對試驗箱進(jìn)行校準,這樣有利于測試時(shí)更穩定更精準。

下面對高低溫恒溫恒濕試驗箱校準方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹:

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一、在無(wú)負載條件下開(kāi)展校準: 

優(yōu)點(diǎn)是:高低溫恒溫恒濕試驗箱的整個(gè)工作區域都得到了校準、測試樣品變更時(shí)不需要重新校準、能夠對試驗箱的適用性做出有效的評估。

缺點(diǎn)是:不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。

二、在有負載條件下開(kāi)展校準:

優(yōu)點(diǎn)是:能夠比較準確地評估測試樣品對試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。

缺點(diǎn)是:當更換測試樣品時(shí),需要重新校準。

三、在使用過(guò)程中的實(shí)時(shí)測量:

優(yōu)點(diǎn)是:此方法不僅具有1和2所述的方法具有的優(yōu)點(diǎn),而且能夠得到測試樣品在環(huán)境試驗過(guò)程中**的環(huán)境參數,往往在對環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗時(shí)采用。

缺點(diǎn)是:每次環(huán)境試驗都需要使用測量設備,通常在試驗箱校準時(shí)采用無(wú)負載條件下的校準方法,本文為了便于評估高低溫恒溫恒濕試驗箱的溫度性能,也采用了此方法進(jìn)行分析。

 

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